激光粒度分析儀的基本概念和各種方法的優(yōu)缺點
點擊次數(shù)：1364 發(fā)布時間：2023-08-15
粒度分析的基本概念
（1）顆粒：具有一定尺寸和形狀的微小物體，是組成粉體的基本單元。它宏觀很小，但微觀卻包含大量的分子和原子；
?。?）粒度：顆粒的大小；
?。?）粒度分布：用一定的方法反映出一系列不同粒徑顆粒分別占粉體總量的百分比；
?。?）粒度分布的表示方法：表格法（區(qū)間分布和累積分布）、圖形法、函數(shù)法，常見的有R-R分布，正態(tài)分布等；
（5）粒徑：顆粒的直徑，一般以微米為單位；
?。?）等效粒徑：指當(dāng)一個顆粒的某一物理特性與同質(zhì)球形顆粒相同或相近時，我們就用該球形顆粒的直徑來代表這個實際顆粒的直徑；
?。?）D10，累計分布百分數(shù)達到10%所對應(yīng)的粒徑值；
D50，累計分布百分數(shù)達到50%時所對應(yīng)的粒徑值；又稱中位徑或中值粒徑；
D90，累計分布百分數(shù)達到90%時所對應(yīng)的粒徑值；
D（4,3）體積或質(zhì)量粒徑平均值；
各種方法的優(yōu)缺點
篩分法：優(yōu)點：簡單、直觀、設(shè)備造價低、常用于大于40μm的樣品。缺點：不能用于40μm以細的樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
顯微鏡法：優(yōu)點：簡單、直觀、可進行形貌分析。缺點：速度慢、代表性差，無法測超細顆粒。
沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行，價格低，準確性和重復(fù)性較好，測試范圍較大。缺點：測試時間較長。
電阻法：優(yōu)點：操作簡便，可測顆粒總數(shù)，等效概念明確，速度快，準確性好。缺點：測試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質(zhì)應(yīng)具備嚴格的導(dǎo)電特性。
電鏡法：優(yōu)點：適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。缺點：樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。
超聲波法：優(yōu)點：可對高濃度漿料直接測量。缺點：分辨率較低。
透氣法：優(yōu)點：儀器價格低，不用對樣品進行分散，可測磁性材料粉體。缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。
激光法：優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復(fù)性和準確性好，可進行在線測量和干法測量。缺點：結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價較高。
